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Matériaux avancés

picto Matériaux avancés

La section Matériaux Avancés vise à développer à SOLEIL la recherche en science des matériaux en couvrant deux sous-thèmes principaux : l’ingénierie des matériaux et les matériaux quantiques. La section rassemble des scientifiques d'environ 20 lignes de lumière ayant une expertise dans diverses techniques expérimentales telles que la diffraction, diffusion, réflectivité, spectroscopie, microscopie ou imagerie, permettant d’étudier la complexité des matériaux en termes de structure, de morphologie ou de propriétés électroniques.

La section Matériaux Avancés a pour objectif de développer au Synchrotron SOLEIL les activités scientifiques dans un large domaine de recherche autour de la science des matériaux, en couvrant deux grands sous-thèmes : l’ingénierie des matériaux et les matériaux quantiques. La section rassemble des scientifiques d'environ 20 lignes de lumière différentes, ayant une expertise dans diverses techniques expérimentales, notamment la diffraction, la diffusion, la réflectivité, la spectroscopie, la microscopie ou l'imagerie, incluant possiblement des effets de cohérence et des capacités de nanofocalisation. Ces approches multiples sont nécessaires pour traiter la vaste diversité et complexité des matériaux en termes de structure, morphologie ou propriétés électroniques à différentes échelles de temps, d'énergie et de taille.

Lignes de lumière de la section

 

Logo AILES ANATOMIX beamline logo (white background, size 500x220 pixels) logo antares
logo cassiopee SOLEIL Synchrotron logo CRISTAL DEIMOS logo
logo MARS beamline
logo ODE logo-psiche logo SAMBA
logo sirius
SMIS Logo TEMPO SOLEIL Synchrotron

Contact

Pour toute demande d'informations générales, veuillez utiliser notre adresse e-mail : advanced-materials@synchrotron-soleil.fr

Thématiques scientifiques

  • Ingénierie des matériaux
  • Matériaux quantiques

Techniques d’analyse proposées par la section

  • Diffraction (XRD, Bragg CDI, GI-XRD)

  • Diffusion (SAXS / WAXS, GI-SAXS)

  • Spectroscopie (XAS / EXAFS / XMCD, RIXS / XES / XRS, XPS / HAXPES / ARPES, IR / THz)

  • Imagerie / Microscopie (Cartographie, Tomographie, Ptychographie, Holographie, SNOM)

  • Réflectivité (XRR, REXS)