Accueil>Actualites>Diffraction cohérente de rayons X : imager à l'échelle nanométrique les formes et déformations de semiconducteurs conçus pour la photonique
Diffraction cohérente de rayons X : imager à l'échelle nanométrique les formes et déformations de semiconducteurs conçus pour la photonique
Related publication
Berenguer, F., Pettinari, G., Felici, M., Balakrishnan, N., Clark, J.N., Ravy, S., Patané, A., Polimeni, A., Ciatto, G. "Imaging shape and strain in nanoscale engineered semiconductors for photonics by coherent x-ray diffraction" Communications Materials., 1: art.n° 19.(2020).