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... de Oliveira, N., Joyeux, D., Phalippou, D., Rodier, J.C., Nahon, L., Polack, F., Vervloet, M., Jae-Young Choi & Seungyu Rah "A High Precision Scanning Control System For A VUV Fourier Transform Spectrometer" Paper presented at the Ninth International ...

... Chubar, O., Susini, J., Cotte, M., Polack, F., Lagarde, B., Scheidt, K., Elleaume, P., Dumas, P., Jae-Young Choi & Seungyu Rah, "Simulation and Optimization of Synchrotron Infrared Micro-Spectroscopic Beamlines using Wave Optics Computation: ESRF and ...

... Thomasset, M., Brochet, S., Polack, F., Assoufid L. Takacs P.Z. Taylor J.S., SPIE "Latest metrology results with the SOLEIL synchrotron LTP." Paper presented at the Advances in metrology for x-ray and EUV optics. Assoufid L. Takacs P.Z. Taylor J.S., 5921: ...

... Rommeveaux, A., Thomasset, M., Cocco, D., Siewert, F., SPIE "First report on a European Round Robin for slope measuring profilers" Paper presented at the Advances in metrology for x-ray and EUV optics. 5921: 59210I.1-59210I.12. (2005). ...

... Moreno, T., Belkhou, R., Cauchon, G., Idir, M., Assoufid L. Takacs P.Z. Taylor J.S., SPIE "New optical setup for the generation of variable spot size on third generation synchrotron beamlines" Paper presented at the Advances in metrology for x-ray and EUV ...

... Joyeux, D., de Oliveira, N., Phalippou, D., Rodier, J.C., Vervloet, M., Polack, F., Nahon, L. "A spectrometer by Fourier transformation without separating wave, for VUV-XUV. Principles, implementation, and primary results" Journal de physique IV., 127: ...

... Nadji, A., Chubar, O., Idir, M., Level, M.P., Loulergue, A., Moreno, T., Nadolski, L.S., Polack, F., "Femto-second Electron Beam Slicing Project at SOLEIL" Paper presented at the European Particle Accelerator Conf. 9th, 5-9 July 2004. 2332-2334. (2004). ...

... Décembre 2014.  2015 s’annonce comme une année particulièrement riche pour l’ensemble de la communauté synchrotron suite à la décision de l’ONU d’en faire « l’Année Internationale de la Lumière et des Techniques ...

... La caractérisation des miroirs utilisés sur les lignes de lumière de SOLEIL pour focaliser le rayonnement à des dimensions de quelques centaines de nanomètres nécessite le développement d’instruments de mesures non disponibles commercialement ...