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Dernière mise à jour : 09/03/2026
  • Geandier, G., Faurie, D., Renault, P.O., Le Bourlot, C., Djémia, P., Castelnau, O., Chérif, S.M., Le Bourhis, E., Goudeau, P. "X-ray strain analysis in thin films enhanced by 2D detection" EPJ Web of Conferences., 6: art.n° 26008. (2010).