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Dernière mise à jour : 09/03/2026
  • Studniarek,M., Halisdemir,U., Schleicher,F., Taudul,B., Urbain,E., Boukari,S., Hervé,M., Lambert,C.H., Hamadeh,A., Petit-Watelot,S., Zill,O., Lacour,D., Joly, L., Scheurer, F., Schmerber, G., Da Costa, V., Dixit, A., Guitard, P.A., Acosta, M., Leduc, F., Choueikani, F., Otero, E., Wulfhekel, W., Montaigne, F., Nahuel Monteblanco, E., Arabski, J., Ohresser, P., Beaurepaire, E., Weber, W., Alouani, M., Hehn, M., Bowen, M. "Probing a Device's Active Atoms" Advanced Materials., 29(19): art.n° 1606578. (2017).