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Dernière mise à jour : 09/03/2026
  • Quertite, K., Enriquez, H., Trcera, N., Bendounan, A., Mayne, A., Dujardin, G., El Kenz, A., Benyoussef, A., Dappe, Y.J., Kara, A., Oughaddou, H. "Electron beam analysis induces Cl vacancy defects in a NaCl thin film" Nanotechnology., 33(9): art.n° 095706. (2022).