HERMES
Conformément aux recommandations du gouvernement français pour limiter la propagation de l'épidémie de CoVD-19, la Direction de SOLEIL organise une reprise très progressive de l’activité. Ainsi, les accélérateurs ont été redémarrés le 21 mai, et la lumière synchrotron est de retour sur les lignes de lumière depuis le 26 mai.
Quelles sont les lumières utilisées à SOLEIL ? Pourquoi une telle diversité ? Eléments de réponses dans cette vidéo illustrée, très accessible et didactique.
SOLEIL présente la deuxième vidéo accessible aux personnes Sourdes et malentendantes, puisqu’elle est sous-titrée en français et interprétée en Langue des Signes Française (LSF). A terme, les 3 vidéos de cette mini-série seront en VFSTF et LSF.
Le Synchrotron SOLEIL, qui accueille jusqu’à 5000 visiteurs par an, aussi bien des utilisateurs de l’installation que le grand public, a été temporairement fermé conformément aux recommandations du gouvernement français, afin de limiter la propagation du Covid-19.
Néanmoins, la recherche scientifique sur la nature du virus, les moyens de se protéger et de réduire sa virulence, reste une priorité.
Mise à jour le 15 mars 2020, 18:30
Les cyanobactéries sont des bactéries abondantes dans de nombreux environnements continentaux et marins actuels. Il y a plus de 2,3 milliards d’années elles ont « inventé » la photosynthèse oxygénique, cette réaction essentielle qui utilise l’énergie lumineuse pour convertir l’eau et le gaz carbonique en carbone organique et dioxygène. C’est ainsi qu’elles ont véritablement modifié le fonctionnement chimique de la surface de la Terre. Elles ont aussi été des ouvrières majeures dans la formation de roches calcaires (biominéralisation).
La ligne HERMES, dédiée à la microscopie X, est composée de deux branches disposant chacune d’un microscope : STXM (Scanning Transmission X-ray Microscopy) et X-PEEM (X-ray PhotoEmitted Electron Microscopy). Les deux microscopes sont complémentaires et fonctionneront en alternance.
HERMES est une ligne de phase III dédiée à la microscopie X. Elle permet de combiner deux types de microscopie. L’une de type Photon-Photon: la microscopie STXM. La deuxième est une technique de type Photon-Electron : La microscopie X-PEEM. Cette approche originale permet d’offrir à la communauté d’utilisateurs deux techniques très complémentaires, chacune adaptée à des thématiques scientifiques et à des environnements échantillons particuliers. La microscopie STXM permet principalement de sonder les propriétés de volume des échantillons avec des profondeurs d’analyse de l’ordre de quelques centaines de nanomètres. La microscopie X-PEEM est quant à elle une technique de surface, adaptée à un environnement ultravide, elle permet de sonder principalement les premiers nanomètres de la surface. Les deux microscopes opèrent dans la même gamme d’énergie avec des résolutions spatiales inférieures à 25nm. Les deux techniques exploitent la spectroscopie en rayons X pour l’imagerie et comme moyen de contraste, en l’occurrence un contraste chimique. Parallèlement, d’autres moyens de contraste peuvent se rajouter en exploitant directement les spécificités des techniques spectroscopiques. Ainsi, l’utilisation de la polarisation circulaire et linéaire de la lumière permet d’imager directement les domaines magnétiques, ferromagnétiques et antiferromagnétiques (XMCD et XMLD)... Finalement les deux méthodes peuvent être utilisées non pas uniquement pour imager des échantillons, mais aussi pour réaliser des mesures en spectroscopie locale (XAS, XANES, XPS, ARPES...) à une échelle nanoscopique.
Les actualités de la ligne
Toutes les actualités de la ligne
Apport de la ligne HERMES à l'étude des « tubenets », des réseaux construits à l’intérieur (...)
Production d’hydrogène - un électrocatalyseur prometteur basé sur des nanotubes d’argile
L'équipe
* Prestataire extérieur, intérimaire ou collaborateur
Données techniques
- Description
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La ligne HERMES est installée sur une section moyenne (IM9). La ligne couvre la gamme d’énergie 70eV-2.5keV de façon à couvrir les besoins des programmes scientifiques de la ligne. En effet la ligne démarre juste en-dessous du seuil Si2p, couvre la gamme des seuils K des éléments légers (C, N, O..), les seuils L des métaux de transition, les seuils M des terres rares et finalement les seuils K du Si, S et P. En outre, la ligne permet de travailler avec la polarisation linéaire tournante (Horizontale à verticale), circulaire et elliptique.
Pour ce faire, la ligne dispose de deux onduleurs de type Apple-II: HU64 pour la partie basse énergie (1.7m, 25 périodes) couvrant la gamme 70-600eV. HU42 (1.8m, 42 périodes) pour la partie haute énergie 0.5-2.5keV.
Figure 1 : Flux calculé pour les onduleurs HU64 (bleu) et HU42 (rouge)
Figure 1 : Flux calculé pour les onduleurs HU64 (bleu) et HU42 (rouge)La ligne se décompose ensuite en cinq sections contenants :
- Chambre miroir M1, défléchi le faisceau et absorbe la plus grande partie de la puissance thermique.
- Monochromateur VLS-VGD et multicouche. Il permet de combiner les deux types de monochromateurs de façon à couvrir toute la gamme d’énergie avec une bonne efficacité et une très bonne résolution, toute en gardant le même chemin optique.
- Chambre de miroir de déflection M4,M5. Les miroirs permettent de défléchir le faisceau vers respectivement la banche X-PEEM et STXM
- La branche X-PEEM. Le faisceau est focalisé à l’aide d’optique Kirk Patrick-Baez pour obtenir un faisceau de 7x25µm² au point de travail du microscope X-PEEM
- La branche STXM. Cette branche contient un système de fente déterminant la source secondaire pour les optiques ZP ainsi que le microscope STXM.
Tout au long de la ligne sont disposés des systèmes de diagnostique de faisceau.
- Gamme d’énergie
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70 – 2500 eV
- Source
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Onduleur HU64 ( apériodique pour une haute rejection des harmoniques : Basse énergie
Onduleur HU42 : Haute énergie
- Flux à la source
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< 1015 phs/s/0.1% b.p. sur toute la gamme
- Polarisation
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Polarisation variable : Circulaire et linéaire variable en continue
- Pouvoir resolvant
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E/∆E > 5000 sur toute la gamme d’énergie
- Optiques
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• Double miroir en mode chicane (2 angles d’incidence pour la rejection des harmoniques)
• Monochromateur double:PGM en mode VLS-VGD (600 et 450 traits/mm) on mode à déviation variable (Petersen) pour la basse énergie.
Réseaux Multicouches pour la haute énergie
• Branche X-PEEM : Miroirs de refocaliastion KB bender
• Branche STXM : Lentilles ZP
- Taille faisceau
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• Branche X-PEEM : 7µm x 25µm (VxH)
• Branche STXM : Φ300µm sur la ZP, 25nm sur l’échantillon
- Flux sur l’échantillon
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• Branche X-PEEM : > 5.1012 Ph/s
• Branche STXM : > 1.1011 Ph/s
- Environnement Echantillon
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• Branche X-PEEM :
Ultravide ou environnement contrôlé (P<1.10-5mbar)
Possibilité de préparation in-situ : Evaporation, Ar etching, Chauffage, clivage...
Analyse in-situ complémentaires: LEED, LEEM, Auger AES, Kerr.
Température échantillon : 150-2000K
• Branche STXM :
Vide secondaire, environnement contrôlé (<1barr)...
Champ magnétique < 200 Oe
Température échantillon : 150-600K
Wet Cell, Microfluidique...
Thématiques scientifiques
| Thématiques scientifiques |
Méthodes |
|---|---|
| Magnetisme |
Ce programme est principalement orienté vers l’étude des nanostructures et des matériaux magnétiques. Les études demandées couplent aussi bien les expériences d’imagerie que de spectroscopie locale. Cette thématique bénéficie directement de l’utilisation des polarisations circulaire et linéaire de la lumière synchrotron. Les aspects dynamiques (sous champ, courant induit,..) constitue aussi une grande attente de la communauté d’utilisateurs. Il y a d’autre part un fort intérêt pour les mesures en température, notamment pour s’adapter aux températures de Curie et de Néel des matériaux (150K-1000K). Plusieurs sujets sont développés sur la ligne : Electronique de spin, Jonction tunnel magnétique, anisotropie de couplage d’échange, nanostructuration et effet de taille, Système à ordres multiples (Multiferroïque…), Oxydes antiferromagnétiques, dynamique d’aimantation… • Imagerie et spectroscopie XMCD-XMLD |
| Nanostructure |
Nanomatériaux : Avec des aspects chimie, surface, matériaux durs, … là aussi forte demande de développement du couplage imagerie-spectroscopie locale, notamment les spectroscopies locales XPS, XAS, XANES… De façon générale cette thématique couvre l’étude des effets de basse dimensionnalité et d’auto-organisation sur les propriétés et la structure électronique des nanomatériaux. • Analyse d'éléments traces |
| Matière molle |
Matière molle et polymères : Ce programme va bénéficier principalement des possibilités uniques de mesure à la fenêtre de l’eau (seuils K Carbone, Azote, Oxygène..). Ce programme nécessite aussi la réalisation de montages spéciaux pour l’étude d’échantillons hydratés (‘’Wet Cell ‘’, microfluidique,…). Finalement l’utilisation de la polarisation de la lumière permet de remonter localement à l’orientation des molécules lorsqu’elles sont greffées sur des surfaces par exemple. • « wet cell », micro-fluidique |
| Surface/Interface |
Cette thématique est exclusivement développée sur le microscope X-PEEM. La combinaison de la microscopie LEEM (Low Energy Electron Microscopy) et X-PEEM permet d’étudier in-situ et sur le même échantillon la structure, la morphologie, la chimie et les propriétés électroniques des surfaces et interfaces. Plusieurs problématiques peuvent ainsi être abordées : Croissance de couches minces, Catalyse et chimie des surfaces, magnétisme, surfaces semi-conductrices… • Imagerie et spectroscopie locales |
| Sc. Terre et environnement |
Ce programme allie les aspects minéralogiques et spectroscopiques de la microscopie STXM et profitera pleinement de la grande ouverture énergétique de la ligne. Plusieurs aspects sont abordés avec des frontières communes aux autres programmes notamment pour les parties bio-minéralisation, toxicité, chimie et nanostructure. Une attention particulière aux aspects spectroscopie locale notamment au seuil du carbone. • Imagerie et spectroscopie locales |
| Biologie et médecine |
Ce programme est relativement large et s’appuie aussi bien sur les aspects caractérisation structurelle (noyau cellulaire, bactérie, micro-organisme,..), identification et co-localisation chimique et de configuration que sur les aspects labellisation et translocation. Ce programme devrait bénéficier de façon significative du développement de la cryogénie et de la micro-fluidique. • Cryogenie |
Du fait de la complémentarité technique des deux microscopes, le programme scientifique de la ligne HERMES est très vaste et touche plusieurs communautés. Il est défini dans l’APS de la ligne et a reçu la validation du conseil scientifique de SOLEIL. Le programme couvre notamment les thématiques suivantes (pour plus de détails se rapporter à l’APS de la ligne) :
Techniques d'analyse
LA MICROSCOPIE STXM
LA MICROSCOPIE X-PEEM
Schémas
Figure 2 : Schéma optique d'HERMES
Figure 3 : Implantation d'HERMES
La ligne HERMES reçoit des utilisateurs depuis novembre 2015 sur la branche X-PEEM et depuis octobre 2016 sur la branche STXM. Les deux microscopes fonctionnent en alternance. Chaque microscope est dédié à des thématiques scientifiques précises et avec des contraintes d’environnement échantillons et de méthodes de préparation spécifiques.
Echantillons
Echantillons X-PEEM:
Les échantillons caractérisés par X-PEEM à HERMES sont montés sur des cartridges type ELMITEC et sont donc soumis aux contraintes géométriques associées. Ainsi la hauteur ne doit pas excéder 4 mm et les dimensions latérales 1x1 mm2 ou 1.2 cm de diamètre.
Il est préférable que l'échantillon soit conducteur pour éviter les effets de charge.
Spécifications
XPEEM preparation chamber:
- Heater stage (up to 2000 K)
- Ar+ ion gun for sputtering
- Various gas inlets (e.g. oxygen)
- Sample carrousel (up to 6 samples)
XPEEM microscope environment:
- Ultra-high vacuum environment (10-11 mbar)
- Motorized (X,Y) translation (± 2500 µm)
- Motorized azimuthal rotation (0 – 360°)
- Temperature control (115 K – 2000 K)
- In situ current injection / magnetic field foreseen
- In-situ electric polarization foreseen
- In-situ evaporation with e-beam & Knudsen evaporators
- Hg lamp (4.9 eV), He lamp foreseen (21.6 eV)
XPEEM microscope specifications:
- Full field imaging (fast acquisition time)
- Fields of view from 50 µm to 2.5 µm
- Resolution in LEEM mode < 10 nm
- Resolution in PEEM mode < 30 nm
- Analyzer resolution: 100 meV (50 meV ultimate)
Characterization techniques catalogue:
- Surface sensitive (< 10 nm probed depth)
- Morphology and crystal structure with LEEM and µ-LEED
- Local absorption spectroscopy using XAS and XANES
- Local electronic structure with XPS, RPES, ARPES and PED
- Imaging of ferro/antiferromagnetic domains using dichroism (e.g. XMCD, XMLD, XLD)
Informations pratiques
Analyse des images X-PEEM acquises sur HERMES avec IgorPro:
- Télécharger le fichier de procédures IgorPro X-PEEM Images Analysis: télécharger
- Copier ce fichier de procédures dans le dossier ...\WaveMetrics\Igor Pro Folder\Igor Procedures ou ...\Documents\WaveMetrics\Igor Pro 6 User Files\Igor Procedures
- Le panel X-PEEM Images Analysis est maintenant disponible dans IgorPro
- Vous pouvez utiliser le court manuel d'utilisation des procédures X-PEEM Images Analysis:télécharger manual_xpeem
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Décembre 2015. |
La ligne HERMES (pour High Efficiency and Resolution beamline dedicated to X-ray Microscopy and Electron Spectroscopy) du synchrotron SOLEIL est née de la volonté de combiner deux techniques microscopiques complémentaires (XPEEM et STXM). Le tout avec une résolution spatiale inférieure à 20 nm et sur une gamme d’énergie allant de 70eV à 2,5 keV.