| Nom et localisation | Domaine en énergie | Autres dispositifs ou Spécificités | Environnements échantillon | Mode de détection | Contacts locaux |
BM29 - ESRF (CRG) | 4.5 à 74 keV | EXAFS/Q-EXAFS/XRD(Reflectomètre) | Cryostats (N2, He) Four, CelluleParis-Edinburgh, cellule liquide | T* + F* +TEY | S.Pascarelli S.De Panfilis |
BM32- ESRF (CRG) | 4 à 30 keV | EXAFS et Diffraction | | | O.Ulrich J. S. Micha |
| FAME - ESRF | 4 à 40 keV | Haut flux de photons Echantillons dilués jusqu'à 1ppm | | T + F + TEY | J.L. Hazemann Y.Soldo O. Proux |
| ID26 - ESRF | 3.2 à 30keV | Wiggler EXAFS, XNES à haut flux Matériaux dilués | Cellule liquide, cryostatsN2 et He | T + F | T.Neisius S.Eeckhout |
GILDA - ESRF (CRG) | 5 à 85 keV | XAS, Surface XAS, Diffraction, WAXS, AWAXS | Focalisation dynamique 5 à 30 keV | T + F + TEY (F jusqu'à 1014at/cm2) | F.d'Acapito C.Maurizio |
| ID24 (ESRF) | 5- 28 KeV | EXAFS dispersif - Time-resolved,XMCD, | Haute pression, réacteurschimiques; | | S.Pascarelli |
| BL11.1- ELETTRA | 2.3 à27 keV | | | T | L.Olivi G.Vlaic |
| A1- Hasylab | ? | XAFS | | | |
| D2 - Hasylab | 5 à 30 keV | EXAFS Biologie et système dilué | Cryostat He | T + F | W. Meyer-Klaucke |
| E2 - Römo 1/Hasylab | 5 à 80 keV | EXAFS/XANES/XAS/MagnétiqueXAS/ REFLEXAFS/Diffraction dynamique/ Mesures en fréquence d'onde(interfaces) | | T + F + TEY | D. Novikov |
| E4 Römo 2 /Hasylab | 2.8 à 11 keV | EXAFS/XANES massif et surface | Cryostats N2 et He Espace restreint autour de l'échantillon | T + F+ Photoémission + X-raystanding waves | E. Welter |
| X1 Römo 2 Hasylab | 6 à 80 keV | EXAFS/Q-EXAFS couplage avecXRD, DSC, polarisation circulaire et XAFS en géométrie de réflection | Gaz | T + F | E.Welter J. Wienold |
ANKA (société) | 2.4 à 30 keV | SAX | | | http://www.anka-online.de |
| 3.4 SRS | 2 à 4 keV | EXAFS X mous | | | A.D.Smith |
| 7.1 SRS | 4 à 11 KeV | Sur Aimant de courbure XAFS/Q-EXAFS | Cryostat N2 + Four | T + F + TEY(amb) | J.F. W. Mosselmans |
| 9.2 SRS | 6 à 40 KeV | EXAFS - Q-EXAFS Échantillons dilués | Cryostats He + N2 +Four | F + TEY(amb) | J.F. W. Mosselmans |
| 9.3 SRS | 4.8 à 40 keV | Sciences des matériaux EXAFS dispersif (7à 20 keV et 10 à 100 ms)/REFLEXAFS/XRD/Q-EXAFS | Cryostat He + N2+ Four | T + TEY(amb) | I.Harvey |
| 16.5 SRS | 9 à 40 keV | Echantillons ultra-dilués. | Cryostat He + N2+Four | F + TEY(amb) | R.L.Bilsborrow |
| I811 -Max lab | 2.4 à 20keV | Wiggler NEXAFS/EXAFS/Surface diffraction/Small angle scattering andStanding X-ray Waves | | | S.Carlson |
| 10-3-2 ALS | 2.5 à 17 keV | m-EXAFS/ KB | | F | M.Marcus |
| X10C - NSLS | 3.5 à 24.7 keV | EXAFS | | | P. Stevens |
| X3B1 | 6 à 30 keV | EXAFS | | | P. Stephens |
| X9B - NSLS | 5 à 18.8 keV | Cristallographie macromoléculaire et EXAFS | | T + F | marina@bnl.gov dauter@bnl.gov |
| X-18B - NSLS | 5.7 à 40 keV | EXAFS | | T + F | W. Caliebe |
| X19A - NSLS | 2 à 8 keV | EXAFS | | | W. Caliebe |
| X-15B - NSLS | 1.5 à 15 keV | EXAFS | | | P. Northrup |
| X23A2 - NSLS | 4.7 à 30 keV | EXAFS | | | C. Nelson |
| X23B - NSLS | 3 à 10.5 keV | EXAFS | | | B. Ravel |
| X24A - NSLS | 1.8 à 5 keV | EXAFS | | | T. Jach |
| X-11A | 4.5 à 35 Kev | EXAFS | | | B. Ravel |
| BL01B1- Spring 8 | 3.8 à 113 keV | | Fours, cryostat He | T + F*+ TEY | T. Uruga K. Kato T.Honma |